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  • SF-3AAF OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3AAF
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  • GS-300 OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統(tǒng) 搭載模式匹配功能，X-Y定位精度在2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統(tǒng)GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統(tǒng)GS-300OTSUKA大冢-負載端口對應膜厚測量系統(tǒng)GS-300
  • 　SF-3/200 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/200
  • 　SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300
  • 　SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300
  • 　SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BB
  • 　AT-1500 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500
  • OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計
  • 　AT-5000 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計 OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-5000
  • OTSUKA大冢-線掃描膜厚計 在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M行全幅、全長測量的裝置。 通過在獨自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
  • 　FE-5000S OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實現(xiàn)測量角度的自動可變機構(gòu)，也對應于所有種類的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外，通過設置相位差版的自動脫穿機構(gòu)，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000S
  • 　FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實現(xiàn)測量角度的自動可變機構(gòu)，也對應于所有種類的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外，通過設置相位差版的自動脫穿機構(gòu)，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
  • OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 高精度地實現(xiàn)具有波長依存性的多層膜測量！
  • MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
  • FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器 是一種通過簡單操作實現(xiàn)高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。 采用將必要的機器收納在機身部位的一體化體型外殼，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的獲取 通過獲取低價位的優(yōu)良反射率，也可以進行光學常數(shù)的分析。OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300
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