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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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“一步操作”是一種追求用戶友好性的設(shè)備，無需任何繁重的工作，設(shè)置樣品即可立即看到結(jié)果。 該設(shè)備旨在縮短檢測過程，無需校準(zhǔn)曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優(yōu)良厚度。 由于使用了大冢電子開創(chuàng)的光學(xué)方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時節(jié)省空間。
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除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實(shí)施自動可變測量機(jī)制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機(jī)制來提高測量精度。
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它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過簡單的操作實(shí)現(xiàn)了高精度光學(xué)干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備安裝在主體中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。
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它是一種通過使用顯微光譜測量微小區(qū)域內(nèi)的優(yōu)良反射率，實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。 可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等鍍膜的厚度。可進(jìn)行1秒/點(diǎn)測量時間的高速測量。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。
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能夠從低亮度到高亮度進(jìn)行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計。 大冢電子獨(dú)特的光譜光學(xué)設(shè)計和信號處理電路采用電子冷卻線陣傳感器，實(shí)現(xiàn)了在寬亮度范圍和波長范圍內(nèi)的低噪聲和高精度測量。
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支持紫外到近紅外區(qū)域的多功能多通道光譜檢測器。光譜光譜可以在*少 5 ms 內(nèi)測量。標(biāo)準(zhǔn)光纖可以在不指定樣品類型的情況下支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜、光源發(fā)射、透射/反射測量外，還可以通過結(jié)合軟件支持物體顏色評估、膜厚測量等。
