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■納米SAQLA的特點(diǎn) 一臺(tái)儀器可輕松連續(xù)測(cè)量 5 個(gè)樣本，無(wú)需自動(dòng)采樣器即可實(shí)現(xiàn) 多個(gè)樣本的連續(xù)測(cè)量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣本的條件進(jìn)行測(cè)量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間 1 分鐘的高速測(cè)量 自動(dòng)調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測(cè)量位置，實(shí)現(xiàn)約 1 分鐘的高速測(cè)量 簡(jiǎn)單易懂的測(cè)量功能（只需單擊一下即可 開(kāi)始測(cè)量），無(wú)需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒(méi)式細(xì)胞塊，無(wú)分包的無(wú)孔， 每個(gè)細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無(wú)需擔(dān)心不成問(wèn)題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
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特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測(cè)量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測(cè)量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量 增加了廣泛的分子量測(cè)量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測(cè)量
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特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測(cè)量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測(cè)量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測(cè)量 通過(guò)測(cè)量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測(cè)量結(jié)果，用于測(cè)量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測(cè)量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測(cè)量
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特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測(cè)量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測(cè)量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量 增加了廣泛的分子量測(cè)量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測(cè)量 通過(guò)測(cè)量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測(cè)量結(jié)果，用于測(cè)量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測(cè)量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測(cè)量
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從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內(nèi)測(cè)量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測(cè)量可實(shí)現(xiàn)高分離粒徑分布的測(cè)量 可在高鹽濃度下測(cè)量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測(cè)量顆粒濃度 動(dòng)態(tài)光散射法可實(shí)現(xiàn)微流變測(cè)量 通過(guò)多點(diǎn)測(cè)量凝膠樣品，可以評(píng)估凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性 標(biāo)準(zhǔn)流單元可連續(xù)測(cè)量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量 溫度梯度功能允許蛋白質(zhì)的變性和相變溫度分析 通過(guò)測(cè)量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測(cè)量結(jié)果，用于測(cè)量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過(guò)濾器（可選）
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評(píng)估光源在紫外區(qū)域的輻射強(qiáng)度。 ? 通過(guò)光譜輻射測(cè)量高精度測(cè)量 亮度 ，支持 紫外、可見(jiàn)、紅外和廣泛的測(cè)量波長(zhǎng)范圍，可實(shí)現(xiàn)光生物學(xué)**評(píng)估 這是一個(gè)有限的設(shè)備，可以測(cè)量紫外線的亮度。
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評(píng)估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評(píng)估 與溫度控制單元結(jié)合使用時(shí)，溫度評(píng)估 支持紫外線 LED 的光學(xué)特性評(píng)估，預(yù)計(jì)這些特性是**、凈化和樹(shù)脂固化。
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基于與 NIMS 共同開(kāi)發(fā)的單粒子診斷方法進(jìn)行測(cè)量。* ? 與國(guó)家材料科學(xué)研究所 研究員高崎正彥和武田高富史合作
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多功能多通道光譜探測(cè)器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測(cè)量可在 5 毫秒內(nèi)進(jìn)行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測(cè)量系統(tǒng)，無(wú)需識(shí)別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測(cè)量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評(píng)估和薄膜厚度測(cè)量。
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除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢圓測(cè)量外，我們還通過(guò)安裝測(cè)量角度的自動(dòng)可變機(jī)制，支持各種薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，還通過(guò)設(shè)置緩速板的自動(dòng)解吸機(jī)制，提高了測(cè)量精度。
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我們的 MCPD 系列內(nèi)聯(lián)薄膜評(píng)估系統(tǒng)采用光學(xué)類型，可在非接觸式和無(wú)損條件下檢測(cè)薄膜厚度、濃度和顏色。 可測(cè)量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。 （折射率為1.5時(shí)） 測(cè)量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí)，還支持多層厚度測(cè)量。 由于采用專有算法可實(shí)現(xiàn)高速實(shí)時(shí)監(jiān)控，因此我們提出了*適合在線膠片監(jiān)視器的系統(tǒng)。
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我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內(nèi)聯(lián)的各種位置和應(yīng)用。 由于測(cè)量原理采用光譜干涉系統(tǒng)，因此在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量可重復(fù)性的同時(shí)，還支持多層厚度測(cè)量。 采用專有算法，可實(shí)現(xiàn)高速實(shí)時(shí)監(jiān)控。
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OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進(jìn)行**反射率測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無(wú)損或非接觸式測(cè)量。 測(cè)量時(shí)間可以高速測(cè)量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
