熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
MITAKA三鷹光器NH-3MAs非接觸式三坐標(biāo)測量機微透鏡陣列（MLA）形狀光學(xué)表征設(shè)備它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標(biāo)。
詳情介紹：
國內(nèi)總代NH-3MAs非接觸式三坐標(biāo)測量機MITAKA三鷹光器
長處
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學(xué)特性
評估項目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機捕獲圖像。 通過對圖像進(jìn)行圖像處理來評估鏡頭的光學(xué)特性。
測量光學(xué)元件
多點微透鏡陣列（MLA）也可以同時測量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式，實現(xiàn)平滑的自動測量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場進(jìn)行定量粗糙度和階梯測量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
NH系列光路圖
測量功能
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學(xué)表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學(xué)特性
評估項目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機捕獲圖像。 通過對圖像進(jìn)行圖像處理來評估鏡頭的光學(xué)特性。
測量光學(xué)元件
多點微透鏡陣列（MLA）也可以同時測量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式，實現(xiàn)平滑的自動測量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場進(jìn)行定量粗糙度和階梯測量。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場進(jìn)行定量粗糙度和階梯測量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
NH系列光路圖
NH系列光路圖
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
、圓度、頂點高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學(xué)表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
產(chǎn)品留言
標(biāo)題
聯(lián)系人
聯(lián)系電話
內(nèi)容
注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
