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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用
詳情介紹：
代理小坂KOSAKA輪廓形狀測定儀定機(jī)EF550A-M58
EF550A 系列
內(nèi)置分析宏支持為復(fù)雜的分析工作節(jié)省人力。
- 該測量機(jī)具有很高的便攜性和安裝靈活性。
- 實時輸出功能提供測量的放大形狀數(shù)據(jù)。
- 通過與輪廓剖面分析系統(tǒng)連接，可以進(jìn)行更**的分析。
| 測量精度 |
Z：±（2.5+0.5×|H|） μm 或更小 H：位移（毫米） X：±（2.5+0.02L） μm或更小 L：測量長度（毫米） |
|---|---|
| 分辨率 | Z軸：0.25微米 X 刻度：0.1微米 |
| 樣本數(shù)/*小間隔 | *大 64，000 點 / 分鐘 0.5μm |
| 測量范圍 | Z軸：30毫米 X：50毫米 |
| 顯示屏放大倍率 | 長（Z），寬（X）：1~2，000次 |
代理小坂KOSAKA輪廓形狀測定儀定機(jī)EF550A-M58
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