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  • 產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

    • 產(chǎn)品型號:SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
    • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格:0
    • 折扣價格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
    詳情介紹:

    塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。

    OTSUKA大塚電子SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300

    OTSUKA大塚電子SF-3特征:


    • 非接觸式、非破壞性厚度測量
    • 反射光學(xué)元件(可從一側(cè)接觸進行測量)
    • 高速(*快5kHz)和實時評估
    • 高穩(wěn)定性(重復(fù)精度0.01%以下)
    • 耐粗糙
    • 可在任何距離使用
    • 支持多層結(jié)構(gòu)(*多 5 層)
    • 內(nèi)置NG數(shù)據(jù)抑制功能
    塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3 



    它支持廣泛的薄膜厚度范圍,并實現(xiàn)高波長分辨率。
    大冢電子的獨特技術(shù)被封裝在一個緊湊的機身中。

     

    特點2:高速響應(yīng)

    由于它甚至可以以**的間距進行測量,即使是移動的測量對象,
    它也是工廠生產(chǎn)線的理想選擇。


    特點3:與各種表面條件的樣品兼容

    通過約φ20μm的微小光斑,即使在各種表面條件下也可以
    測量厚度。

     

    特點4:兼容各種環(huán)境

    由于可以從*遠(yuǎn)200 mm的距離進行測量,因此可以根據(jù)目的和應(yīng)用構(gòu)建
    測量環(huán)境。

     

    測量項目
    • 厚度測量(5層)

     

    • 各種厚膜厚度

     

    OTSUKA大塚電子SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300



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