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產品詳情
  • 產品名稱:塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器

  • 產品型號:多樣品納米顆粒直徑測量系統(tǒng)納米SAQLA(帶自動采樣器AS50)
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
特點 ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本,無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量,也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置,實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能(只需單擊一下即可 開始測量),無需復雜的操作 內置非浸沒式細胞塊,無分包的無孔, 每個細胞都是獨立的,因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能,可輕松設置溫度 ■AS50的特點 連續(xù)測量多達 50 個樣本 即使在測量過程中也能添加樣品 樣品集簡單方便(*多可批量更換 50 個樣品) 有機溶劑兼容(玻璃一次性電池) 樣品容量 *小 0.4ml
詳情介紹:

規(guī)格

手勢
類型表達式 多樣品納米顆粒直徑測量系統(tǒng)
測量原理 動態(tài)光散射法(光子相關法)
 光源 大功率半導體激光器(660nm,70mW) *1
探測器 高靈敏度 APD
連續(xù)測量 *多 5 個樣本
測量范圍  0.6nm ~ 10μm
濃度范圍  0.00001 ~ 40% *2
溫度范圍 0 至 90°C(帶溫度梯度功能) *3
樣品容量 角單元:1.2mL~,微量單元:20μL~
大小  W240 X D480 X H375 mm
功耗  AC 100~240V 50/60Hz、250VA
 重量 約 18 千克
軟件 平均顆粒直徑分析(庫姆蘭特方法)
粒子大小分布分析
(馬夸德特/繼續(xù)/NNLS/統(tǒng)一方法)
粒度分布重疊寫入
反向相關函數(shù)和殘差圖
顆粒大小監(jiān)測器
顆粒尺寸顯示范圍(0.1 至 10)6 nm)
分子量計算器
21 CFR 第 11 部分 *4
選項 微量細胞(從20μL起),熒光切割濾光片

*1 本設備是激光**標準 (JIS C6802) 第 1 類產品
*2 PS Latex 顆粒:0.00001 至 10%,?;撬幔簙40%
*3 使用卡拉斯塞爾與貼片細胞支架。
使用 5 聯(lián)電池座或分配器時為 15 至 40°C
*4 選項

 

類型表達式 自動采樣器 AS50
測量范圍  3nm ~ 10μm
濃度范圍  0.001 ~ 40%
溫度范圍  15 ~ 40℃
連續(xù)測量 *多 50 個樣本
樣品容量 AS 電池 0.4mL ~
大小  W240 X D480 X H275 mm
(nanoSAQLA+AS50:W480 X D480 X H375 mm)
 重量  12 kg
(nanoSAQLA+AS50:30kg)
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