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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學(xué)干涉法實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測量，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
可以通過以低廉的價格獲得優(yōu)良反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹：
產(chǎn)品信息
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜的薄膜厚度分析
- 實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量，同時緊湊且價格低廉
- 簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 可以通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等進(jìn)行多種薄膜厚度測量。
- 通過非線性*小二乘膜厚分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）。
測量項目
- 優(yōu)良反射率測量
- 膜厚分析（10層）
- 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）
測量對象
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功能膜、塑料
透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋， 等等。 -
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍(lán)寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學(xué)材料
濾光片、AR涂層等 -
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機(jī)膜、灌封膠）等 -
其他
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硬盤驅(qū)動器、磁帶、建筑材料等。
規(guī)格
規(guī)格類型 薄膜型 標(biāo)準(zhǔn)型 測量波長范圍 300-800nm 450-780nm 測量膜厚范圍
（SiO 2換算）3nm-35μm 10nm-35μm 光斑直徑 φ3mm / φ1.2mm 樣本量 φ200 × 5 (H) mm 測量時間 0.1-10s內(nèi) 電源 AC100V ± 10% 300VA 尺寸、重量 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤 其他 參考板，配方創(chuàng)建服務(wù) 設(shè)備配置
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