OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計
產(chǎn)品型號：OPTM series
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series

詳情介紹：

OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計

利用顯微分光的微小領(lǐng)域的**反射率測量，高精度的膜厚·光學常數(shù)解析可能的裝置。
各種薄膜、晶片、光學材料等涂層膜的厚度和多層膜可以非破壞、非接觸測量.。測定時間是能夠進行1秒/point的高速測定的，即使是初次測定的，也搭載了能夠簡單解析光學常數(shù)的軟件。

特長：
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將膜厚測量所需的功能集中在頭部！

高精度的**反射率測量（多層膜厚，光學定數(shù)）

1點1秒以內(nèi)的高速測量

在顯微鏡下實現(xiàn)廣闊的測量波長范圍的光學系統(tǒng)（紫外線-近紅外線）

區(qū)域傳感器的**機構(gòu)

即使是**次進行光學定數(shù)解析的輕松解析危機

可定制測量序列的宏功能

對應各種定制