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“光譜輻照度測(cè)量系統(tǒng) IL100”評(píng)估光源的照度。 ?從光譜輻照度測(cè)量中高精度測(cè)量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測(cè)量波長(zhǎng)范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應(yīng)用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進(jìn)行測(cè)量和照明 電源也是集體控制 這個(gè)設(shè)備追求到精良的基礎(chǔ)照度測(cè)量。
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評(píng)估光源在紫外線區(qū)域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測(cè)量高精度測(cè)量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測(cè)量波長(zhǎng)范圍 ? 可以進(jìn)行光生物 **性評(píng)估 它是一種可以測(cè)量紫外線亮度的有限設(shè)備。
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“紫外分光輻照度測(cè)量系統(tǒng)IL100”評(píng)估光源在紫外區(qū)的輻照度。 ?從光譜輻照度測(cè)量中高精度測(cè)量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測(cè)量波長(zhǎng)范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應(yīng)用 ?可以進(jìn)行生物系統(tǒng)評(píng)估必不可少的PFD測(cè)量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量的設(shè)備。 產(chǎn)品咨詢
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評(píng)估 UV LED 的光分布特性。 ?基于輻射強(qiáng)度/輻照度的光分布評(píng)估 ?通過光譜光分布評(píng)估每個(gè)波長(zhǎng)的輻射強(qiáng)度 可視化用于**和樹脂固化的光源的不均勻照射。
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評(píng)估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評(píng)估 ? 溫度評(píng)估與溫度控制單元相結(jié)合 支持 紫外線 LED 的 光學(xué)特性評(píng)估，預(yù)計(jì)將被**、凈化和樹脂固化。
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它測(cè)量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測(cè)量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評(píng)估溫度特性 。繁瑣操作要求 測(cè)量精度高集成半球，樣品組方便 測(cè)量大功率激光光源瓦級(jí)對(duì)應(yīng) 測(cè)量系統(tǒng)對(duì)應(yīng)任何場(chǎng)景總光通量測(cè)量多年經(jīng)驗(yàn)，滿足需求支持。
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一種測(cè)量照明設(shè)備配光特性的裝置。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量！ -顏色可以與光分布數(shù)據(jù)一起測(cè)量！- 即使在光譜測(cè)量中也可實(shí)現(xiàn)相當(dāng)于照度計(jì)類型的高速測(cè)量！ ?可根據(jù)配光測(cè)量結(jié)果進(jìn)行照度分析！!! -符合標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量系統(tǒng)！
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是一種可以方便地離線檢測(cè)面內(nèi)膜厚不均勻性的設(shè)備，用于膜的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽檢。 可以高速且高精度地測(cè)量整個(gè)表面。
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它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量薄膜厚度的設(shè)備。 通過將開創(chuàng)的光譜干涉技術(shù)與新開發(fā)的高精度膜厚計(jì)算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以至少0.01的測(cè)量間隔測(cè)量寬度為500mm（使用一臺(tái)時(shí)）的膜厚秒。
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“一步操作”是一種追求用戶友好性的設(shè)備，無需任何繁重的工作，設(shè)置樣品即可立即看到結(jié)果。 該設(shè)備旨在縮短檢測(cè)過程，無需校準(zhǔn)曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優(yōu)良厚度。 由于使用了大冢電子開創(chuàng)的光學(xué)方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測(cè)量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時(shí)節(jié)省空間。
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除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實(shí)施自動(dòng)可變測(cè)量機(jī)制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)光子檢測(cè)器方法外，還通過為延遲板提供自動(dòng)安裝/拆卸機(jī)制來提高測(cè)量精度。
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它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計(jì)，它通過簡(jiǎn)單的操作實(shí)現(xiàn)了高精度光學(xué)干涉測(cè)量的薄膜厚度測(cè)量。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備安裝在主體中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。
