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KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200，ET4000
日期：2024-09-20 11:36
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摘要：KOSAKA小坂全自動臺階儀ET200，ET4000：針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析--KOSAKA小坂臺階儀
KOSAKA小坂臺階儀，針對半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力分析，
株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立的公司，也是日本**家發(fā)表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為*具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
全自動臺階儀ET200
|
*大尺寸 |
φ160×厚48mm |
|
再現(xiàn)性 |
1σ 1nm以內 |
|
測定范圍 |
Z：600μm X：100mm |
|
分解能 |
Z：0.1nm X：0.1μm |
|
測定力 |
10μN～500μN |
全自動臺階儀ET4000 Series
