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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:OTSUKA大塚 超快光譜干涉儀測厚儀

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理OTSUKA大塚 超快光譜干涉儀測厚儀
詳情介紹:


特征
  • 非接觸式、非破壞性厚度測量
  • 反射光學元件(可從一側(cè)接觸進行測量)
  • 高速(*快5kHz)和實時評估
  • 高穩(wěn)定性(重復精度0.01%以下)
  • 耐粗糙
  • 可在任何距離使用
  • 支持多層結(jié)構(gòu)(*多 5 層)
  • 內(nèi)置NG數(shù)據(jù)抑制功能

 

 

特點1:用我們自己的技術(shù)

它支持廣泛的薄膜厚度范圍,并實現(xiàn)高波長分辨率。
大冢電子的獨特技術(shù)被封裝在一個緊湊的機身中。

 

特點2:高速響應

由于它甚至可以以**的間距進行測量,即使是移動的測量對象,
它也是工廠生產(chǎn)線的理想選擇。

 

特點3:與各種表面條件的樣品兼容

通過約φ20μm的微小光斑,即使在各種表面條件下也可以
測量厚度。

 

特點4:兼容各種環(huán)境

由于可以從*遠200 mm的距離進行測量,因此可以根據(jù)目的和應用構(gòu)建
測量環(huán)境。




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