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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：線掃描測厚儀在線式 Otsuka大冢

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的設備。 通過將開創(chuàng)的光譜干涉技術與新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術相結(jié)合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
詳情介紹：
  • 采用線掃描方式，實現(xiàn)全尺寸薄膜檢測，無“遺漏”
  • 只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
  • 可以進行高速高精度的測量
  • 使用抗抖動的光學系統(tǒng)
  • 寬樣品（TD方向*大可測量10m）
  • 硬件和軟件的原創(chuàng)設計
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