日本大冢膜厚量測儀FE-300|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：日本大冢膜厚量測儀FE-300
產(chǎn)品型號： FE-300
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

日本大冢膜厚量測儀FE-300 日本大冢膜厚量測儀FE-300 日本大冢膜厚量測儀FE-300

詳情介紹：

膜厚量測儀　FE-300

產(chǎn)品信息

特　長

薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析

高性能的低價光學薄膜量測儀

藉由**反射率光譜分析膜厚

完整繼承FE-3000**機種90%的強大功能

無復雜設定，操作簡單，短時間內(nèi)即可上手

線性*小平方法解析光學常數(shù)（n:折射率、k:消光系數(shù)）

測量項目

**反射率測量
膜厚解析（10層）
光學常數(shù)解析（n：折射率、k：消光系數(shù)）

產(chǎn)品規(guī)格

軟體功能
樣品尺寸	*大8寸晶圓（厚度5mm）
測量時間	0.1s ~ 10s以內(nèi)
量測口徑	約φ3mm
通訊界面	USB
尺寸重量	280（W）× 570（D）×350（H）mm，約24kg
標準功能	波峰波谷解析、FFT解析、適化法解析、小二乘法解析
選配功能	材料分析軟件、薄膜模型解析、標準片解析